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低阻抗率計 MCP型 (手提式)

產品時間:2021-03-17

簡要描述:

商品名稱:低阻抗率計 MCP-T370型 (手提式)
Loresta-AX
特色:維持安定之高質量,依據世界之四探針理論之高精度之阻抗率計
操作簡單,現場使用攜帶型方便,用于生產技術、質量管理
測定范圍:10-2~106Ω
資料輸出:USB Memory
體積:約 228 W&#215; 85 D&#215; 65 Hmm, 420g
標準配備

ASP探頭 MCP-TPO3P《四探針探頭》
利用

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商品名稱:低阻抗率計 MCP-T370型 (手提式)
Loresta-AX
特色:維持安定之高質量,依據世界之四探針理論之高精度之阻抗率計
操作簡單,現場使用攜帶型方便,用于生產技術、質量管理
測定范圍:10-2~106Ω
資料輸出:USB Memory
體積:約 228 W× 85 D× 65 Hmm, 420g
標準配備
  
ASP探頭 MCP-TPO3P《四探針探頭》
利用價值廣泛標準探頭JIS K7194對應,
Pin間 5mm,Pin尖 0.37R×4支,壓力 210g/支,
尺寸 35W×20L×35Hmm
 
  
MCP-TA06 充電器 
  
選購品
 
ESP探頭 MCP-TPO8P《四探針探頭》
不均一樣品用
Pin間 5mm,Pin尖 ? 2×4支,壓力 240g/支,
尺寸 35W×20L×35Hmm
 
PSP探頭 MCP-TPO6P《四探針探頭》
小樣品或薄膜用
Pin間 1.5mm,Pin尖 0.26R×4支,壓力 70g/支,
尺寸 ? 10-20× L112mm
 
QPP探頭 MCP-TPQPP《四探針探頭》
微小樣品用
Pin間 1.5mm,Pin尖 0.26R×4支,壓力 70g/支,
尺寸 ? 10-20× L112mm
 
NSCP探頭 MCP-NSCP《四探針探頭, 特殊用探頭》
Silicone wafer用
Pin間 1.0mm,Pin尖 0.04R×4支,壓力 250g/支
 
BSP探頭 MCP-TPO5P《四探針探頭, 特殊用探頭》
大樣品用
Pin間 2.2mm,Pin尖 0.37R×4支,壓力 210g/支
 
TFP探頭 MCP-TFP《四探針探頭, 特殊用探頭》
Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用
Pin間 1.0mm,Pin尖 0.15R×4支,壓力 50g/支
 
AP探頭 MCP-TPAP《二探針探頭》
標準樣式
Pin間 10mm,Pin尖 ? 2×2支,壓力 240g/支
 
BP探頭 MCP-TPBP《二探針探頭》
大樣品用
Pin尖 ? 2×2支,壓力 240g/支
 
MCP-TRF1探頭檢驗片
ASP, ESP探頭用 (探頭檢驗片于測定前檢查之)
 
MCP-TRPS 探頭檢驗片
PSP探頭用 (探頭檢驗片于測定前檢查之)
 
MCP-TRTF 探頭檢驗片
TFP, NSCP探頭用 (探頭檢驗片于測定前檢查之)

 

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